『面内分布計測』の記事一覧 : 1件

この記事の内容をまとめると… 全反射蛍光X線(TXRF)分析装置「XHEMIS TX-3000」の販売開始 新光学系+マルチエレメント検出器で計測速度約3倍、最大全体6倍の高速化 AIスペクトル予測と軽元素対応、不要背景...