『非破壊検査』の記事一覧 : 2件

この記事の内容をまとめると… PHEMOS-Xシリーズ用の新検出手法「TD Imaging」を開発 LITと同等の感度で、より高い空間分解能を持つ 2025年5月12日より国内外の半導体メーカーに向けて受注開始 先端半導...

2018年9月26日(水)~28日(金)の3日間、東京ビッグサイトで開催中の「JIMA2018 第9回総合検査機器展」。 超音波、磁気、磁粉、浸透、渦流、X線、赤外線等の技術を駆使し、さまざまな分野で人々の安全と製品の品...