『半導体パッケージ基板検査』の記事一覧 : 1件

この記事の内容をまとめると… 可変倍率3倍〜6倍の産業用カメラレンズ2製品を発売 微細な欠陥検出を実現する分解能と明るさを向上 プリズムタイプは落射照明に最適化した光学設計 微細化・高集積化が進む半導体パッケージ基板や電...