『不良解析』の記事一覧 : 3件

信頼性試験、故障解析、デバイス評価に役立つ書籍を手持ちの中からご紹介させていただきます。 弊社商品に限らず、幅広い種類の電子部品、半導体デバイスを対象としたものを選択致しました。 最新の専門特化の物ではなく、むしろ歴史の...

こんにちは。品質保証部のたまごです。今日は、製品の不良解析について書こうと思います。 不良解析に一番重要なのは、3現主義! 3現主義とは……現場、現物、現実のことです。 これは色々な解釈ができるとは思いますが、わたしは下...

島津製作所は、業界最高クラス30,000:1のS/N比で測定でき、測定対象を20箇所まで自動で認識する機能を搭載した赤外顕微鏡『AIM-9000』を発売した。 同製品は「簡単」「自動」で微小な異物を測定できることをテーマ...