粒子径・形状を約1分で高精度解析　堀場製作所が新装置「Partica」発売

「Partica」は、粒子径分布の測定と粒子形状の解析機能を標準搭載しており、1台で両方の測定を可能とする。レーザー回折・散乱式による粒子径分布測定と、動的画像解析式による粒子形状解析を同時に実施し、測定時間の大幅な短縮を実現した。

医薬品や食品、電池材料など従来測定が難しかった試料にも対応でき、高濃度や水溶性の試料においても詳細な解析が可能となった。測定時間は従来比で最大50％削減され、省スペース化も図れる。

また、高精度測定（標準粒子規格から±0.6％以内）および10ナノメートル〜5ミリメートルという広い測定レンジを備え、半導体製造向けの研磨剤など、ナノ粒子と粗大粒子の両方を高感度に測定できる。

ソフトウェアは刷新され、遠隔操作や自動化、データインテグリティ対応など多様なニーズに応えるプラットフォームを構築。モジュール設計によりハード面での柔軟性と保守性も高めた。